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可靠性增長試驗(yàn)的概述：

可靠性增長試驗(yàn)是以改進(jìn)設(shè)備的可靠性為其主要目標(biāo)。 通過試驗(yàn)分析—改進(jìn)（即所謂TAAF)這樣反復(fù)循環(huán)的過程，使設(shè)備在研制階段的大多數(shù)可靠性問題及時(shí)得以發(fā)現(xiàn)，并獲得解決。
可靠性增長試驗(yàn)適用于當(dāng)設(shè)備（含硬件與軟件)按規(guī)定需要進(jìn)行可靠性改進(jìn)，或設(shè)備的設(shè)計(jì)不太成熟，如不改進(jìn)不可能滿足合格試驗(yàn)要求的時(shí)候。同時(shí)，也適用于采用了新的且未經(jīng)證實(shí)的工藝、技術(shù)或元器件的時(shí)候。通過已有數(shù)據(jù)的增長分析， 可以進(jìn)行生產(chǎn)過程老練情況估計(jì)，MTBF試驗(yàn)情況估計(jì)，月 返修率和生產(chǎn)熟練期估計(jì)等。因此，可靠性增長試驗(yàn)是新設(shè)備的研制，老設(shè)備的改進(jìn)所廣泛應(yīng)用的重要手段。可靠性增長分析對設(shè)備的設(shè)計(jì)、開發(fā)及質(zhì)量管理都是非常有效的。
由于設(shè)備的失效是通過每一次成功的改進(jìn)而逐步減少，因此，可靠性增長過程中設(shè)備的失效率并不是恒定的。也就是說，在評價(jià)設(shè)備的失效率或MTBF時(shí)，恒定效率的假設(shè)不再是正確的了，需要采用下述的數(shù)學(xué)模型。